產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
惠州市華高儀器設備有限公司
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
技術(shù)文章
- 華高 SDC-300G 水滴角測試儀：表面性能檢測可靠之選
- 柯尼卡美能達 CR-10plus 色差儀：便攜精準的色彩檢測實用之選
- 【儀器百科】貴金屬元素分析儀在冶金行業(yè)中的作用與意義是什么？
- X射線熒光鍍層測厚儀在金屬涂層檢測中的應用
- 安捷倫Ultivo液相色質(zhì)聯(lián)用儀：檢測好幫手
- 美國博曼BA-100系列：全自動鍍層膜厚儀
- 荷蘭 Skalar San++：全自動濕化學分析儀
- 德國EPK MiniTest 600系列：涂層測厚
- ROHS無鹵環(huán)保檢測儀的操作指南與使用技巧
- 島津 SIL-30ACMP 高通量自動進樣器：助力 NexeraTM 系列提升分析效率
產(chǎn)品中心
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號 | 產(chǎn)品描述 |
-
貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。 -
Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)水平。 -
貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用于的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
-
貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用*于的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素。 -
貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
-
X熒光重金屬元素分析儀E-max基于HDXRF技術(shù)，可快速準確定量分析土壤中鎘等重金屬元素，其*越檢測性能可以滿足中國農(nóng)用土壤監(jiān)管法規(guī)要求（GB15618-2018），檢出限輕松應對鎘元素的法規(guī)限值0.3mg/kg。
