產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫(xiě)字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號(hào)華貿(mào)大廈T3寫(xiě)字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
技術(shù)文章
- 安捷倫/是德科技E4982A臺(tái)式LCR表：高頻阻抗測(cè)試的可靠之選
- 日本島津 SMX-6010：豎直照射型 X 射線檢查設(shè)備
- 島津LCMS-2020：高速LC適配型液質(zhì)聯(lián)用儀
- 【華高百科】X射線熒光鍍層測(cè)厚儀的工作原理及基本構(gòu)造
- 利用液相色譜質(zhì)譜儀分析合成抗菌劑（LC/MS）
- 電感耦合對(duì)潤(rùn)滑油中金屬分析（ICP-AES分析）
- 影響X射線熒光鍍層測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果的因素分析
- 美國(guó)安捷倫Agilent——石墨爐原子吸收光譜儀的產(chǎn)品特性
- 安捷倫分析型液相色譜HPLC系統(tǒng)采購(gòu)方案
- 貴金屬元素分析儀在實(shí)驗(yàn)室研究中的角色
產(chǎn)品中心
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
-
貴金屬元素分析儀專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。 -
Ux-6200貴金屬元素分析儀專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，其分辨率為149±5eV，運(yùn)用于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)水平。 -
貴金屬元素分析儀專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，運(yùn)用于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
-
貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，其分辨率為149±5eV，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素。 -
貴金屬元素分析儀專門(mén)針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
-
X熒光重金屬元素分析儀E-max基于HDXRF技術(shù)，可快速準(zhǔn)確定量分析土壤中鎘等重金屬元素，其*越檢測(cè)性能可以滿足中國(guó)農(nóng)用土壤監(jiān)管法規(guī)要求（GB15618-2018），檢出限輕松應(yīng)對(duì)鎘元素的法規(guī)限值0.3mg/kg。
